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Zeta電位是納米材料的一種重要表征參數(shù)。很多微納米產(chǎn)品都需要表征其穩(wěn)定性，粒度大小、zeta電位、ph值、溫度、產(chǎn)品配方等會影響樣品穩(wěn)定性，而zeta電位是樣品穩(wěn)定性比較直觀的一個參數(shù)。現(xiàn)代儀器可以通過簡便的手段快速準確地測得。HL8001系列zeta電位分析儀常見的幾種測試電位方法：1.電泳光散射法：常見的測試zeta電位的方法是利用光學(xué)法，也就是電泳光散射法，由于此方法可以和動態(tài)光散射法相結(jié)合，隨著納米粒度及zeta電位儀的市場擴大，而這種方法被廣大客戶接受。此方法的特...

納米激光粒度儀利用動態(tài)光散射原理和光子相關(guān)光譜技術(shù)，根據(jù)顆粒在液體中的布朗運動速度來測量粒度。小粒子的布朗運動快，大粒子的布朗運動慢。當這些粒子受到激光照射時，散射光會以不同的速度波動。光子相關(guān)光譜根據(jù)光子在特定方向的波動來分析粒徑。它是記錄粒度的理想工具。通過使用新的粒度損失分析器功能和的自動趨勢分析，您可以快速找到不同時間的變化。日常儲存和使用中的注意事項如下：1、納米激光粒度儀測量單元連續(xù)開機時間不超過5小時；2、測量一個樣品時，必須取下樣品漏斗，讓儀器自動執(zhí)行清倉程序...

比表面積及孔徑分析儀選用靜態(tài)數(shù)據(jù)容積法**測量原理，為完成性能**與高通量測序，選用了與眾不同的模塊化設(shè)計系統(tǒng)軟件。儀器設(shè)備配置六個工作平臺，可單獨或與此同時實際操作，完成對粉末狀、顆粒物、化學(xué)纖維及片狀材料的比表面積、孔隙率、孔容及直徑等性能**高通量測序剖析。機器設(shè)備適用電池正負極原材料，木薯淀粉等藥品輔材，碳黑、白炭黑、鈦白粉等多孔結(jié)構(gòu)粉體設(shè)備，三氧化二鋁、碳分子篩等催化反應(yīng)原材料，活性碳、沸石等吸附原材料。一、比表面積及孔徑分析儀檢測原理：在超低溫（如：石蠟浴，77....